JCM-7000是日本電子2019年4月新推出的一款臺(tái)式掃描電子顯微鏡。其不僅繼承了日本電子大型電鏡強(qiáng)大的功能，相對(duì)于大型掃描電鏡，其自動(dòng)化程度高，操作簡(jiǎn)單便捷，維護(hù)保養(yǎng)容易，體積小巧，價(jià)格低廉，檢測(cè)速度快，從啟動(dòng)裝填樣品到測(cè)試出結(jié)果僅需5分鐘左右。JCM-7000還創(chuàng)新的加入了實(shí)時(shí)能譜分析和實(shí)時(shí)3D顯示的功能，更高效便捷的服務(wù)于您的研究和工作。

JCM-7000臺(tái)式掃描電子顯微鏡主要功能：

◆       在同一個(gè)視野上可以從光學(xué)圖像無(wú)縫過(guò)渡到（SEM）圖像

◆       邊觀察邊進(jìn)行元素分析

◆       通過(guò)自動(dòng)功能使圖像從低倍率到高倍率變得更容易

◆       低真空 (LV) 模式可以用來(lái)直接觀測(cè)不導(dǎo)電的樣品

◆       高真空 (HV) 模式可以進(jìn)行高倍率詳細(xì)形貌的觀察

◆       在同一視野上可以實(shí)時(shí)顯示3D圖像 (Live 3D)

◆      自動(dòng)布局且可以一鍵輸出結(jié)果（SMILE VIEW TM  Lab)

    下面介紹幾個(gè)使用實(shí)例方便您對(duì)我們這款產(chǎn)品有一個(gè)更直觀深入的了解：

 樣品巖鹽，JCM-7000可以在同一個(gè)視野下由光學(xué)成像自動(dòng)連續(xù)無(wú)縫過(guò)渡到SEM成像。

 樣品合金，JCM-7000通過(guò)高靈敏度能譜探測(cè)器既可以實(shí)時(shí)顯示視野范圍中的主要組成元素，還能實(shí)時(shí)顯示樣品中各種元素的面分布情況。

樣品螺絲，JCM-7000采用新型高靈敏度4分割背散射電子探測(cè)器，實(shí)現(xiàn)了四種掃描電鏡（成分、凹凸、陰影）圖像和三維圖像的采集和顯示，可以實(shí)時(shí)顯示樣品表面的3D形貌,通過(guò)右邊的形貌維彩圖可以清晰看出螺絲的凹凸紋理。   

 樣品SUS304不銹鋼，使用JCM-7000，可以精細(xì)分析樣品斷裂的細(xì)節(jié)，包括斷裂面的表面形貌、斷裂起始點(diǎn)的元素分布，以及材料中的夾雜物等，由此推斷其斷裂成因。   

樣品玻璃，*透明樣品使用光學(xué)顯微鏡很難觀察形貌，而利用SEM觀察，可以清楚的觀察到樣品表面形貌信息，放大后各種細(xì)節(jié)也清晰可見(jiàn)。

上圖是設(shè)備的基本測(cè)試流程，我們可以看見(jiàn)整個(gè)測(cè)試流程是十分簡(jiǎn)單和便捷，用戶輕松迅速的就能掌握設(shè)備的使用。另外，它從啟動(dòng)裝填樣品到測(cè)試出結(jié)果僅需5分鐘左右，高效快速的測(cè)試速度也能給我們工作效率的提升帶來(lái)ji大的助力！

參數(shù)信息：